BKTEM-D3A型高温材料热电性能测试仪
BKTEM-D3A型高温材料热电性能测试仪是一款集成度高的,应用对于热电材料热电性质参数赛贝克系数和电导率进行测量。
主要应用领域:
1、半导体行业
2、能源和环境工程
3、热电测量
4、制冷行业
5、大学研究与教学
6、材料:半导体、金属与合金
7、工业领域:汽车/航空/航天,开发研究和学术研究,半导体行业/传感器/热电发电机/制冷设备
主要热电材料体系:
Bi2Te3/Sb2Te3体系
PbTe体系
SiGe体系
CoSb3为代表的方钻矿型热电材料
Zn4Sb3
技术特点:
·可控温场下可同步测量赛贝克系数和电阻率
·标准配置进口高级商用吉时利(Keithley )数采仪表,避免电路板集成数据采集技术带来的干扰误差
Keithley技术:
100nV rms 噪音本底
直流电压灵敏度低至 10nV,基本精度为 0.002%(90天)
7ppm DCV 可重复性,基本 1 年 DCV 准确度:0.0028%
最大读取速度范围:2k 读数/秒;
温度分辨率:0.001℃;
交流电压分辨率:0.1μV
电阻分辨率:1 μΩ
电流分辨率:1nA
低功耗欧姆测量模式
弱电流电路测试功能
偏置补偿欧姆功能
检定低压元件又快又准确
提高测量精度的置信度
以低至 100μA 的源电流测量低阻抗,大大减少设备自发热
进行电阻测量时控制测试电压,避免击穿可能已形成的任何氧化物或膜
消除会在系统环境中进行低电平电阻测量时产生错误的热效应
提供更的低电阻测量
·标配进口高级商用电流源(ADCMT),非电路板集成恒流源,避免无法精准输出小电流而产生热效应和测不准
·恒流源参数:0.000-220mA;恒流设置分辨率:100nA;恒流稳定性:0.008+20nA/天
·温度范围:RT up to 1200℃
·控温速率:0.01 –100K/min,可以节约用户测试时间
·配置垂直放样结构,上下样品支架夹持
·测量范围:赛贝克系数:0.5μV/K-25V/K;电阻率:0.2μOhmm-2.5KOhmm
·0-80K温差范围可任意设置温差值及温差点的个数
·U-I曲线自动扫描,计算出合适的电流数值, 可以测量电导率;不会对大电阻样品产生误差
·铂金大电极设计,和样品可充分接触,对于不均匀样品也可获得良好的导电测试
·热电偶间距可以根据样品尺寸调节后固定,满足不同科研要求精度:赛贝克系数:±7%;电导系数:±7%(热电材料测试,非康铜标样);重复性:3%
·高级应用程序控温技术,包括温差和测量步进等高级要求
·自由升/降温、控制温度程序,进行升温、恒温与降温过程中的数据测量
·热电偶探针可选K、S、R型(无需铠装)配置,不会产生非常大的接触电阻
·自动压力安全保护设计,进口美国航天级硬件配置,确保测试过程中不会发生爆炸
·测量系统:柱状、片状、长方体、薄膜等系统可选
技术规格
温度范围 | RT up to 1200°C | |
控温速率 | 0.01 – 100k/min | |
控温精度 | +/-0.25K | |
测量方法 | 赛贝克系数:静态直流电 | 电阻系数:四端法 |
测量范围 | 赛贝克系数:0.5μV/K-25V/K | 电阻率:0.2μOhmm-2.5KOhmm |
分辨率 | 赛贝克系数:10nV/K | 电阻率:10nOhmm |
精度 | 赛贝克系数: ± 5 % | 电导系数:± 7 % |
重复性 | 3% | |
电流 | 0 to 220 mA(可控精准≤0.005mA) 恒流设置分辨率:100nA 恒流稳定性:0.008+20nA/天 | |
数据采集 | 100nV rms 噪音本底 直流电压灵敏度低至 10nV,基本精度为 0.002%(90天) 7ppm DCV 可重复性,基本 1 年 DCV 准确度:0.0028% 最大读取速度范围:2k 读数/秒 温度分辨率:0.001℃; 交流电压分辨率:0.1μV 电阻分辨率:1 μΩ 电流分辨率:1nA | |
气氛 | He、氧化、还原、真空(多种可选) | |
真空度 | 10E-3mbar | |
样品尺寸 | 直径或正方形:2 to 4 mm ;长度:6 to 22mm |